图片名

全国服务热线:4001500108

新闻中心 NEWS CENTER

ZEISS scatterControl优化图像质量的硬件解决方案

分类:新闻中心 发布时间:2024-03-11 2058次浏览

ZEISS scatterControl模块可显著改善图像质量,并将CT扫描的散...

ZEISS scatterControl模块可显著改善图像质量,并将CT扫描的散射伪影降至更低。上述优化有助于合适零件的后续数据处理和评估步骤,从而让表面测定和缺陷分析更为。该产品适用于高容量、高密度零件,如增材制造的金属零件和铝铸件(甚至带有钢嵌体),以及其他含有高密度材料的装配件。

 

该模块可用于ZEISS METROTOM 1500 225kV G3,也可作为改造解决方案或购买新系统的一部分。即刻起,使用ZEISS scatterControl升级您的系统吧。您将获得良好的图像质量,从而更便捷地进行数据评估。

1.png


图像质量更佳、缺陷检测性能更优
ZEISS scatterControl通过减少散射辐射造成的伪影,显著改善了CT图像质量。不同组件之间的对比度提升,缺陷检测步骤也得以简化:可对既往几乎无法评估的零件区域进行评估。

优化表面测定
受益于ZEISS scatterControl,不仅缺陷检测步骤有所简化,表面测定的总体质量也有所提升。这对于具有挑战性的零件的计量应用而言是巨大优势,如果不对其伪影进行校正,则会影响表面测定过程。

配备VAST模式,实现快速扫描
ZEISS scatterControl可与“Stop and Go(走停)”和VAST扫描模式配合使用。ZEISS scatterControl解决方案为锥束CT提供良好的图像质量,可与扇束CT的图像质量相媲美,但扫描时间可提高1000倍。

使用方便
ZEISS scatterControl属于一键式解决方案。该模块可与METROTOM OS的其他有用功能无缝衔接,如VHD(虚拟水平探测器扩展)、AMMAR(混合材料伪影减少)或VolumeMerge,并完全集成到软件中。


ZEISS scatterControl的缺陷分析性能更优
ZEISS scatterControl可显著改善各种零件和行业的CT扫描图像质量。其作用机制十分明确,该解决方案不仅可有效去除伪影,还能对模块进行相对于工件的定位。基于这些优势,ZEISS scatterControl成为所在领域的理想之选。通过以下内容了解如何使用该模块进行缺陷检测和分析。

减少伪影,改善CT图像质量
ZEISS scatterControl与其他产品相比具有明显差异,其使用滑块元素来比较使用和不使用scatterControl模块可实现的X射线图像质量。因此,改进后的图像对比度更高且伪影更少,从而使细节呈现更为清晰。

版权所有 © 2022 昆山友硕新材料有限公司 备案号:苏ICP备13044175号-25网站地图
  • 产品搜索
  • 加我微信
  • 返回顶部