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ZEISS scatterControl优化图像质量的硬件解决方案

分类:新闻中心 发布时间:2024-02-26 2862次浏览

ZEISS scatterControl模块可显著改善图像质量,并将CT扫...

       ZEISS scatterControl模块可显著改善图像质量,并将CT扫描的散射伪影降至更低。上述优化有助于合适零件的后续数据处理和评估步骤,从而让表面测定和缺陷分析更为。该产品适用于高容量、高密度零件,如增材制造的金属零件和铝铸件(甚至带有钢嵌体),以及其他含有高密度材料的装配件。

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       该模块可用于ZEISS METROTOM 1500 225kV G3,也可作为改造解决方案或购买新系统的一部分。即刻起,使用ZEISS scatterControl升级您的系统吧。您将获得良好的图像质量,从而更便捷地进行数据评估。


图像质量更佳、缺陷检测性能更优

       ZEISS scatterControl通过减少散射辐射造成的伪影,显著改善了CT图像质量。不同组件之间的对比度提升,缺陷检测步骤也得以简化:可对既往几乎无法评估的零件区域进行评估。

优化表面测定

       受益于ZEISS scatterControl,不仅缺陷检测步骤有所简化,表面测定的总体质量也有所提升。这对于具有挑战性的零件的计量应用而言是巨大优势,如果不对其伪影进行校正,则会影响表面测定过程。
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配备VAST模式,实现快速扫描

       ZEISS scatterControl可与“Stop and Go(走停)”和VAST扫描模式配合使用。ZEISS scatterControl解决方案为锥束CT提供良好的图像质量,可与扇束CT的图像质量相媲美,但扫描时间可提高1000倍。


ZEISS scatterControl的缺陷分析性能更优

       ZEISS scatterControl可显著改善各种零件和行业的CT扫描图像质量。其作用机制十分明确,该解决方案不仅可有效去除伪影,还能对模块进行相对于工件的定位。基于这些优势,ZEISS scatterControl成为所在领域的理想之选。通过以下内容了解如何使用该模块进行缺陷检测和分析。

减少伪影,改善CT图像质量

       ZEISS scatterControl与其他产品相比具有明显差异,其使用滑块元素来比较使用和不使用scatterControl模块可实现的X射线图像质量。因此,改进后的图像对比度更高且伪影更少,从而使细节呈现更为清晰。


基于模块定位

       鉴于模块的工作原理,ZEISS scatterControl与同类产品相比具有较高的质量:其置于管线和探测器之间。可将较小物体(如密集型增材制造零件)放置在模块前方,将较大物体放置在后方。两种方式皆可发挥作用。此外,内置的物理碰撞传感器和精密的碰撞预测软件可有效防止碰撞。

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